當(dāng)前位置：
探針接觸面凹凸不平，要怎么選擇大電流測(cè)試探針呢？
文章出處：行業(yè)資訊 責(zé)任編輯：深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量：- 發(fā)表時(shí)間：2020-01-16 14:51:00
標(biāo)簽：
測(cè)試探針的接觸面凹凸不平的，可以選擇頭部為—梅花頭 的測(cè)試探針以至于增大接觸面積，頭部本身的大一些的，這樣就能通過更大的電流。探針材料也要選純金的，接觸電阻更小，也有利于通過大電流。
現(xiàn)在有很多成品大電流測(cè)試探針，本來就可以通過比較大的電流，你可以咨詢一下華榮華測(cè)試探針廠！
下面分析幾款大電流測(cè)試探針以供選擇和參考：
- 德國(guó)INGUN探針個(gè)性化測(cè)試解決方案
- INGUN探針在世界被很多企業(yè)所采用
- 在車充中用大電流頂針替代彈簧的好處有哪些？
- 雙頭探針怎么用于芯片測(cè)試座？
- 半導(dǎo)體測(cè)試探針卡市場(chǎng)現(xiàn)狀及未來發(fā)展趨勢(shì)？
- 關(guān)于雙頭探針那些優(yōu)點(diǎn)，你都知道多少
- 測(cè)試探針是干嘛的？
- 小探針，大學(xué)問，半導(dǎo)體測(cè)試貫穿IC全產(chǎn)業(yè)鏈，探針該如何選擇？
- 探針對(duì)半導(dǎo)體芯片檢測(cè)這么重要？這樣才能看清探針的好壞
- 深入了解下pogo pin彈簧頂針的作用
