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使用半導體測試探針有哪些優勢?
半導體高頻測試針簡稱“高頻針”常用探針頭型有:B、J、J1、U、U1、T等,其體積細小、測試精度要求較高,主要用于半導體測試及通訊設備頻率測試領域
2025-12-22
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